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    BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀

    簡要描述:BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學檢測系統(tǒng)。

    • 產(chǎn)品型號:
    • 廠商性質:生產(chǎn)廠家
    • 更新時間:2025-03-18
    • 訪  問  量: 973

    詳細介紹

    產(chǎn)品介紹

    BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測技術,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等等領域的基礎研究和質量分析質量控制用途。


    BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀


    基本性能指標

    粒徑檢測(動態(tài)光散射法)

     粒徑范圍 0.3 nm – 15 μm
     最小樣品量  3 μL
     檢測角度  173 °+90 ° + 11.2°
     分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

    沉降法粒度測試

     檢測方法  沉降法
     粒徑范圍  1μm-50μm
     檢測角度 0°
    樣品量  1-3ml

    Zate電位測試

     Zeta范圍  無實際限制
    電泳遷移率范圍  > ±20 μ.cm/V.s
     電導率范圍  0 - ≥270 mS/cm
     Zeta測試粒徑范圍 1 nm – >120 μm  

    分子量測試

     分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

    微流變測試

     測試能力  均方位移、復數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

    趨勢測試

     模式  時間和溫度

    濃度檢測

     檢測方法 LEDLS
     測試能力  體積分數(shù)和數(shù)量濃度

    折光率測試

    檢測方法 楔形池樣品折射(無需示蹤粒子)
     檢測角度  0°
     RI范圍  1.2-1.6
     精度  優(yōu)于0.1%
    最小樣品量  380 μL

    系統(tǒng)參數(shù)

    溫控范圍 -15°C - 120°C
     冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
    激光器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm(不同波長激光器可選)
    相關器  快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍
     檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS
     光強控制  0.0001%  - 100%,手動或者自動    









    檢測參數(shù)


    動態(tài)光散射

    ●流體力學尺寸 Dh

    ●分布系數(shù) PD.I

    ●擴散系數(shù) D

    ●顆粒間相互作用力因子 kd

    ●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

    ●計算分子量

    ●溶液粘度和折射率

    ●流變學信息G*,G‘,G“,η*,J


    電泳光散射

    ●Zeta電位及其分布

    ●帶電顆粒的電泳遷移率


    透射

    ●透射濁度

    ● 顆粒物濃度

    ●液體折射率

    ●沉降法粒度和粒度分布測試


    趨勢測試

    ● Zeta電位和粒徑的pH滴定

    ● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


    靜態(tài)光散射

    ● 絕對分子量Mn、Mw、Mz

    ● 分子量分布

    ● 第二維利系數(shù)A2



    選配件

    動靜態(tài)流動模式

    BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離,依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

    BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀


    BAT-1自動滴定儀

    樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環(huán)境具有強烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風險。

    BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀            


    BeScan穩(wěn)定性分析儀

    BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

    BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀





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