BeNano 180 納米粒度分析儀

簡(jiǎn)要描述：BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開(kāi)發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-02-28
訪問(wèn) 量： 4766

產(chǎn)品咨詢(xún)聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類(lèi)

Product Category

納米粒度及Zeta電位分析儀

BeNano 90納米粒度分析儀 BeNano 180 納米粒度分析儀 BeNano Zeta 電位分析儀 BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀 BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀 BeNano 180 Zeta Pro納米粒度及Zeta電位分析儀 BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀
查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開(kāi)發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。它基于動(dòng)態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過(guò)激光照射到樣品上，光電檢測(cè)器在背向 173°角檢測(cè)樣品顆粒布朗運(yùn)動(dòng)造成的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的波動(dòng)，再通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的自相曲線，結(jié)合數(shù)學(xué)方法就可以得到顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，進(jìn)一步利用斯托克斯 - 愛(ài)因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果。

BeNano 180 納米粒度分析儀

基本性能指標(biāo)

粒徑檢測(cè)

粒徑范圍	0.3 nm – 10 μm
最小樣品量	40 μL
檢測(cè)角度	173°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

分子量測(cè)試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測(cè)試

測(cè)試能力

均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

趨勢(shì)測(cè)試

模式	時(shí)間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 120°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮?dú)?/span>
標(biāo)準(zhǔn)激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關(guān)器	快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動(dòng)態(tài)線性范圍
檢測(cè)器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強(qiáng)控制	0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng)

檢測(cè)參數(shù)

●流體力學(xué)直徑 D_H

●分布系數(shù) PD.I

●擴(kuò)散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 k_D

●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

●分子量

●溶液粘度和折光指數(shù)

●溶液流變學(xué)信息G*，G‘，G“，η*，J

檢測(cè)技術(shù)

●動(dòng)態(tài)光散射

●靜態(tài)光散射

選配件

●動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式

BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離，依次流出。通過(guò)檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào)，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào)，得到高分辨率且不依賴(lài)于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。