百特激光粒度儀第三次亮相美國匹茲堡儀器儀表展覽會

       2011 年3月13日至17日，第61屆匹茲堡儀器儀表展覽會在美國亞特蘭大召開，百特激光粒度儀連續(xù)第三次參加這個規(guī)模zui大的分析儀器展覽會，引起廣泛關注。在為期四天的展覽期間，百特與來自幾十個國家的數百名參觀者面對面地進行了技術和商務交流，與多個國外代理商和合作伙伴進行了內容廣泛的商業(yè)洽談。參觀者對來自中國的激光粒度儀所表現出的良好的技術性能、的制作工藝和高度智能化的軟件系統(tǒng)給予高度評價，一些旅美華人對百特自主研制的具有先進水平的儀器表達了由衷的欽佩，對能在世界zui別的儀器展覽會上看到來自中國的儀器制造廠商感到自豪。

       匹茲堡儀器儀表展覽會創(chuàng)辦于1950年，每年舉辦一屆，是世界規(guī)模zui大的以分析儀器、光譜儀器和實驗室設備為主的展覽會，今年是第61屆，地點是在美國亞特蘭大市。本屆展覽會代表了世界當今的分析儀器技術水平，參展商主要來自美國、歐洲、日本等發(fā)達國家，展出的分析儀器、光譜儀器以及實驗設備，并介紹的儀器設計、應用技術以及未來的發(fā)展趨勢。

       通過多次參加匹茲堡分析儀器儀表展覽會，不僅使國外用戶近距離了解和感受到了百特儀器良好的性能，百特也了解到了世界分析儀器發(fā)展的技術和發(fā)展趨勢。所有這些，對百特儀器走向市場和進一步提高產品的技術水平都具有重要意義。