顆粒測(cè)試基本知識(shí)百問(wèn)百答之十三常見(jiàn)粒度測(cè)試方法

常用的粒度測(cè)試方法有激光散射法（毫米、微米、納米）、動(dòng)態(tài)光散射法（納 米）、動(dòng)態(tài)和靜態(tài)顯微鏡圖像法（微米、粒度和粒形）、重力和離心沉降法（微米 / 納米）、庫(kù)爾特（電阻）法（微米）、電鏡法（微米、納米）、超聲波法（微米）、透氣法（微米平均粒度）以及篩分法（大于 38 微米）等。目前zui常用的是激光散射法、動(dòng)態(tài)光散射法和顯微圖像法。

         （激光法）                      （圖像法）

         （光阻法）                        （透氣法）

              （超聲波法）               （篩分法）

              （沉降法）                    （電阻法）

（動(dòng)態(tài)光散射法）